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3He樣品桿低溫平臺，集成在3He樣品桿上的300 mK溫區(qū)的物性測試系統(tǒng)，通過利用“單發(fā)式”的3He樣品桿將傳統(tǒng)的2 K低溫系統(tǒng)的溫度擴展至300 mK，結合多種物性測試選件，可實現300 mK溫區(qū)下的多種物性測試功能。
4K超低振動低溫光學恒溫器，專為光學實驗設計的超低溫平臺，將振動控制在了納米量級
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